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光学二次元影像仪对电子元器件的外观检测

文章出处:网责任编辑:作者:人气:-发表时间:2013-12-24 14:23:00

  近十几年来,微电子产业迅猛发展,微电子元器件的尺寸、种类、形态结构都有了很大的变化,像PCB印刷电路板上器件的尺寸变得越来越小,电路安装密度越来越高,这给质量检测带来了极大的挑战。

  海科思为了应对电子元器件行业技术的快速更新,推出了电子元器件行业专用二次元影像测量仪。海科思二次元影像测量仪可以更容易取得电子元器件的长宽高厚等各种外观尺寸,对于电子元器件上的孔径、孔距、焊盘间距、穿孔位置度、真直度、中心距等检测项目都可以轻松搞定。

  对于任何一个电子元器件来说,在安装之前都对其各方面进行检测,一旦焊入印刷电路板上,才发现有问题,不仅浪费了时间和精力,而且拆来拆去容易损坏元件及印刷电路板。二次元影像测量仪除了以上测量功能外,还可以用来检测元器件外观缺陷,如引线是否折断,外表有无锈蚀,骨架有无破损等等。针对需要检测平整度、表面平面度、正位度的连接器、端子、接插件等产品,二次元影像仪也可以轻松搞定。

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