导电粒子如何测量
导电粒子如何测量
随著电子产品朝轻,薄,短,小化快速发展,各种携带式电子产品几乎都已液晶显示器作为显示面板,特别是在摄录放影机,笔记型电脑或个人数位处理器等产品上,液晶显示器已是重要的组成元件。液晶显示器除了液晶面板外,在其周边连动驱动晶片作为显示讯号之控制用途。而异方导电材料广泛应用在这方面。
异方导电特性主要取决于导电粒子的充填率。虽然异方性导电胶其导电率会随着导电粒子
充填率的增加而提高,但同时也会提升导电粒子互相接触造成短路的机率。此外,导电粒子的粒径分布和分布均匀性亦会对异方导电特性有所影响。通常,导电粒子具有良好的粒径均一性和真圆度,以确保电极与导电粒子间的接触面积一致,维持相同的导通电阻,并同时避免部分电极未接触到导电粒子,导致开路的情形发生。常见的粒径范围在3~5μm之间,太大的导电粒子会降低每个电极接触的粒子数,同时也容易造成相邻电极导电粒子接触而短路的情形;太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题,造成粒子分布密度不平均。在导电粒子的种类方面太小的导电粒子容易行成粒子聚集的问题,造成粒子分布密度不平均。
对导电粒子进行测量和筛选可以从源头做起,从而消除因导电粒子质量所产生的生产质量问题。海科思对导电粒子测量有的方法,通过高倍高清晰度的镜头及特制的光源,可以清楚的观察到导电粒子的分布情况及颗粒的大小。

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