载带尺寸快速测量，兼顾高精度降低用人成本

文章出处：网责任编辑：作者：人气：-发表时间：2023-05-30 23:32:00

载带在工业用途是保护电子元器件不被污染和损坏，通常在电阻、电容、晶体管、贴片IC、三极管等等进行包装，然后运输到制造工厂。常见载带由圆形索引定位孔和方形承载孔，这个两个孔位的尺寸精度要求非常高，因此关系到工厂自动贴装设备能否准确识别载带里电子元器件的位置。随着电子科研成就，芯片改变尺寸越来越小的趋势，载带也相应采取精密的方向发展，日后可能发展到纳米级别的载带供应。直径、半径、孔距、长、宽、间距、两圆圆心距等等都是载带需要测量的项目。

由于载带测量的尺寸比较小，推荐使用光学非接触式测量工具，根据海科思半自动影像测量仪，而不是传统的卡尺或投影仪测量。由于载带的材料限制，卡尺测量会有较大型变，而投影仪在测量表面尺寸的时候影像清晰度不够，而且是员工比对边缘位置，导致测量误差较大，不符实行。半自动影像测量仪只是员工的控制仪器的运动和被测量物体位置的寻找，海科思测量影像的捕捉是靠自主研发软件的自动识别抓去的，员工测量的误差较小（方便人员调整，也不影响测量精度），且员工学习应用性容易上手，仪器成本比起QC岗位低。海科思针对白色透明的塑料载带测量时，员工边缘位置判断加软件自动识别，更为准确，不受材质的影响。