影像测量仪一般具有较大的测量范围，通常配备有(0.7╳ ～ 4.5╳)的变焦物镜，照明光源除了常的底光和顶光外，还有环形照明光，适合于底光和顶光都不能有效照明时应用。

其次影像测量仪的误差来源

在影像测量仪上的测量均是单轴或二维平面坐标的测量，测量时先对焦，后对准，再读数后计算处理。读数来自于标尺即光栅系统，对焦对准依靠显微镜光学系统，还有一个直接影响测量效果和精度的照明光源，因为，基于影像方法测量的仪器，如果被测件不能被有效正确的照明，则测量的结果显然要偏离其真实尺寸。除前述因素外，环境条件也是制约测量精度不可忽视的因素。基于上述分析，可以归纳出以下几个方面的误差来源:

    1)光栅计数尺的误差;

    2)工作台移动时存在的直线度、角摆带来的误差;

    3)工作台两测量轴垂直度带了的误差;

    4)微镜光轴与工作台面不垂直带了的误差;

    5)测量室温度偏离20℃参考温度带来的误差;

    6)光源照明条件的变化带来的对焦和对准误差。

在这几种因素中，前四项误差，是硬件误差，在仪器制造过程中已经形成并固定下来，一般无法改变;温度影响带来的误差，通过控制测量室的温度和等温过程来减小其影响。

后一项则常被忽视，而在实际测量中，当光源照明条件改变时，直接影响被测工件的照明效果和影像质量，主要是因为影像测量仪的图像是通过CCD接收，尽管CCD具有自动调节增益的功能，但当亮度过大时即失去调节功能，导致被测工件影像在缩小，当亮度过低时，工件影像反而变大。这种影响，对于测量具有重复图形结构之间的间距时，只要整个测量过程中照明条件保持不变，其影响可以忽略，因为每个重复图形结构都同时在变大或变小，间距的测量计算直接消除了影像变形的影响，如测量玻璃尺、网格板刻线间距;除了这种特殊情形外，如测量圆的直径、工件的长度和宽度，都将带来明显的误差。

为了满足广大高精度客户的测量需求，海科思推出了GM-7060系列超高精度影像测量仪，此款设备采用晶元光罩技术，无需光栅尺和编码器，软件工作平台，全部通过软件补偿精度，几乎不受机械误差及阿贝误差的影响。这项发明已经获得世界多国专利，广泛应用于PCB板、线路板、冲压件精密计量；量值传递等高精度测量领域。