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测量AMOLED屏幕厚度,加速实现屏下摄像

文章出处:网责任编辑:作者:人气:-发表时间:2019-10-11 17:21:00

 全面屏时代,摄像头放置方式是各厂商挠破头都想解决的问题,屏下摄像头必然是最优解。屏下摄像头已经有厂商公布了一段时间了,为何到现在还不见上市?阻碍屏下摄像头技术实现的瓶颈是屏幕!摄像头想要透过屏幕拍摄画面,就需要高透光率只有屏幕薄了才能有更多的光线能进入摄像头,所以屏幕需要非常薄。AMOLED屏幕是自发光的,因为没有了背光源,所以屏幕厚度能降到0.5-1.8mm左右,但是这还未能达到高进光量的理想要求,屏幕就需要一薄再薄。

 

屏幕越做越薄就会有一个棘手的问题出现,厚度应该怎么测量?海科思激光平面度厚度测量仪就解决了这个难题,应用了先进的光路与激光联动技术,同时配置了高精度CCD影像和高精度的日本激光镭射测头系统,该技术使影像光学光路与激光同轴,根据测量过程的要求,二套光路可实现自动切换平面度厚度影测量仪同时配置高速伺服马达系统,实现高速测量,激光厚度测量仪的最大优点是精度高,非接触测量对被测量物不会有损伤。

 

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