测量AMOLED屏幕厚度，加速实现屏下摄像

文章出处：网责任编辑：作者：人气：-发表时间：2019-10-11 17:21:00

全部屏时代，摄像头放置方式是各厂商挠破头都想解决的问题，屏下摄像头必然是解。屏下摄像头已经有厂商公布了一段时间了，为何到现在还不见上市？阻碍屏下摄像头技术实现的瓶颈是屏幕！摄像头想要透过屏幕拍摄画面，就需要高透光率只有屏幕薄了才能有更多的光线能进入摄像头，所以屏幕需要非常薄。AMOLED屏幕是自发光的，因为没有了背光源，所以屏幕厚度能降到0.5-1.8mm左右，但是这还未能达到高进光量的理想要求，屏幕就需要一薄再薄。

屏幕越做越薄就会有一个棘手的问题出现，厚度应该怎么测量？海科思激光平面度厚度测量仪就解决了这个难题，应用了的光路与激光联动技术，同时配置了高精度CCD影像和高精度的日本激光镭射测头系统，该技术使影像光学光路与激光同轴，根据测量过程的要求，二套光路可实现自动切换。平面度厚度影测量仪同时配置高速伺服马达系统，实现高速测量，激光厚度测量仪的大优点是精度高，非接触测量对被测量物不会有损伤。